Призначення. Для вимірювання показників заломлення діелектричних зразків.
Галузь застосування. Лазерна спектроскопія.
Переваги. Мала площа зразка, яка потрібна для вимірювання (дорівнює перерізу лазерного пучка, який може бути сфокусованим); можливість вимірювань на кривих поверхнях зразків; широкий інтервал показників заломлення, які можна вимірювати (1,3-2,5).
Опис. Для вимірювання показників заломлення діелектричних зразків – підкладок використано нелінійне явище утворення періодичних структур (ПС) у тонкій фоточутливій плівці AgCI-Ag, яка осаджена у вакуумі на підкладку, за рахунок збудження у плівці граничної хвилеводної моди лазерним пучком. ПС індукується s-поляризованим пучком при куті падіння. Після утворення ПС вимірюється кут дифракції від ПС, який відповідає умові автоколімації. Потім розраховується показник заломлення підкладки.